果冻九一麻花

镀铝膜厚度测量仪/介绍果冻九一麻花

真空镀主要包括真空蒸镀、溅射镀和离子镀几种类型，它们都是采用在真空条件下，通过蒸馏或溅射等方式在塑件表面沉积各种金属和非金属薄膜，通过这样的方式可以得到非常薄的表面镀层，同时具有速度快附着力好的突出优点。

由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄，因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度。由包装产物质量监督检验中心(济南)起草的《 GB/T 15717-1995真空金属镀层厚度测试方法--电阻法》于1996年颁布，详细介绍了如何检测绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的测试方法。

电阻法检测镀铝层的厚度用表面电阻来表示，单位是Ω/□，数值越大说明镀铝层厚度越薄，一般真空镀铝薄膜的表面电阻值为1.0－2.5Ω/□。其试验原理：试样金属镀层为一段金属导体，依据欧姆定律测量规定长度和宽度试样的金属镀层电阻值，以方块电阻表示金属镀层的厚度或直接计算其厚度。标准中对真空金属镀层厚度测量装置也进行了明确规定，要求电阻测量误差不大于士1%， 装置的测量宽度不小于100m m，两测量头间的距离精度为&辫濒耻蝉尘苍;0.10mm。

为此果冻九一麻花最新研发了DMT-E金属镀层测厚仪,依据《GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法--电阻法》制造而成，采用高精度接触式测量，具备温度补偿功能，数据实时显示、自动统计，配备的微型打印机可快速打印出结果显示方块电阻值、厚度值、均匀度等相关数据。

满足各大公司、质监所及相关检测机构对绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度测量的需求。为包装行业检测产物质量提供有力技术支持，也是目前国内实验仪器行业的一大跨越。

技术参数               

厚度测量范围 果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花厚度50-570?               

方块电阻测量范围               0.5-5Ω               

方块电阻测量误差               ±1%               

样品尺寸                       100×100mm               

夹样精度                       ±0.1mm               

测温范围                       0～50℃，精度&辫濒耻蝉尘苍;1℃               

外形尺寸                       370mm×330mm×450mm （长宽高）               

重    量                       19kg               

工作温度                       23℃&辫濒耻蝉尘苍;2℃                

相对湿度                       80%,无凝露               

工作电源                       220V 50Hz

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