果冻九一麻花

台式薄膜测厚仪袄介绍

济南叁泉中石实验仪器生产的CHY-U测厚仪用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产物质量和生产安全。

测厚是一项重要的检验项目。测厚的方法除了常规的卡尺、千分尺等机械方法外，还有超声波测厚、射线测厚、磁性测厚、电流法测厚等等。在厚度检验过程中，影响测量结果准确性的因素较多，在测厚操作中需要特别注意的几个问题。

　　影响测厚准确性的因素

测厚仪本身的精度和声速的校对。每台测厚仪都有相应的精度，如常用的测厚仪精度为士0.1+1%丁，其中下为待测工件的厚度。测厚仪本身精度的影响会使实测厚度和真实厚度值之间产生偏差，在具体测量时应根据实际要求选择相应精度的测厚仪。由超声波测厚仪的工作原理可知声速是测量厚度值的决定因素，所以测厚前应按说明书对测厚仪进行测试、校准，并根据不同工况条件、设备情况调整声速。

探头和辊合剂的选择。使用超声波测厚仪时正确选择探头和祸合剂也是保证测量结果准确性的重要因素。如测量高温工件时仍选用普通探头，极易造成示值偏高、示值跳动，有时还会损坏探头;待测设备表面不平整或测量小管径管道时，测厚仪应选用小直径探头，如果探头选用过大会造成探头和被测物表面接触不好，导致探头接收的脉冲波信号强度不够，测厚仪示值偏低。

技术参数               

测量范围           0-2mm （其他量程可定制）

分辨率             0.1um

测量速度           10次/min（可调）

测量压力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

接触面积           50mm?（薄膜），200mm?（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

进样步矩           0 ～ 1300 mm(可调)

进样速度           0 ～ 120 mm/s(可调)

机器尺寸           450mm×340mm×390mm (长宽高)

重    量           23Kg

工作温度           15℃-50℃

相对湿度           80%,无凝露

试验环境 果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花无震动，无电磁干扰

工作电源           220V 50Hz

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