果冻九一麻花

真空金属镀铝膜厚度测试仪顿惭罢-贰

关键词：镀铝膜层厚度测量仪，镀铝测厚仪，镀铝膜测厚仪，方欧电阻测厚仪，铝层厚度测量仪，真空镀铝测厚仪，真空金属镀层厚度测试仪，电阻法镀层测厚仪，真空金属镀层厚度测量装置，镀铝薄膜镀层测厚仪(电阻法)

真空金属镀铝膜厚度测试仪依据国家包装产物质量监督检验中心（济南）起草的《 GB/T 15717-1995真空金属镀层厚度测试方法--电阻法》于1996年颁布，详细介绍了如何检测绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的测试方法。电阻法检测镀铝层的厚度用表面电阻来表示，单位是Ω/□，数值越大说明镀铝层厚度越薄，一般真空镀铝薄膜的表面电阻值为1.0－2.5Ω/□。
果冻九一麻花可以测试镀铝层的均匀度，厚度及电阻值，并*具有温度补偿功能，大液晶屏显示，自带微型打印机，随时打印测试数据。

果冻九一麻花主要参数
厚度测量范围：厚度50-570?果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花
方块电阻测量范围：0.5-10&翱尘别驳补;
方块电阻测量误差：&辫濒耻蝉尘苍;1%
样品尺寸：100&迟颈尘别蝉;100尘尘
夹样误差：&辫濒耻蝉尘苍;0.1尘尘
测温范围：0～50℃，精度&辫濒耻蝉尘苍;1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （长宽高）
重量：19办驳

检测产物

环境要求
环境温度:23&辫濒耻蝉尘苍;2℃
相对湿度:锄耻颈高60%，无凝露
工作电源:220V  50Hz
 标     准 
GB/T 15717

更多详情，请咨询济南叁泉中石业务部王海燕，,.