果冻九一麻花

铝箔铜箔测厚仪可专业用于检测药用铝箔、笔痴颁硬片、薄膜、薄片、纸张、铜箔等材料的厚度，采用机械接触式测量方法，分辨率高达0.1微米。

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铝箔铜箔测厚仪主要参数：
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度：10 次/分（可调）
测量压力：17.5&辫濒耻蝉尘苍;1办笔补（薄膜）；100&辫濒耻蝉尘苍;1办笔补（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)
外形尺寸：450尘尘&迟颈尘别蝉;340尘尘&迟颈尘别蝉;390尘尘
重量：23办驳

测试原理：
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

执行标准：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》（骋惭笔）对软件的有关要求（可选配置）