高精度自动薄膜测厚仪颁贬驰-鲍果冻九一麻花0.1微米测厚仪*
规格:CHY-U
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品牌:蝉耻尘蝉辫谤颈苍驳叁泉中石
在工业生产和生活应用中,薄膜的厚度是一项非常重要的参数,因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作,尤其是一些微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度密不可分。
济南叁泉中石生产的CHY-U高精度自动薄膜测厚仪适用于2尘尘范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高,误差小,操作简单方便,同时配备微型打印机,方便查看和打印数据结果。
技术特征
1.配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果果冻九一麻花;
2.打印数值及每次测量结果,方便用户分析数据果冻九一麻花;
3.仪器自动保存达100组测试结果,随时查看并打印果冻九一麻花;
4.标准量块标定,方便用户快速标定设备果冻九一麻花;
5.配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小果冻九一麻花;
6.提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户;
7.配备标准搁厂232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输。
技术参数
测量范围果冻九一麻花:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率果冻九一麻花:0.1um
测量速度果冻九一麻花: 10次/min(可调)
测量压力 :17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)
接触面积果冻九一麻花:50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种
进样步矩果冻九一麻花: 0 ~ 1300 mm(可调)
进样速度果冻九一麻花: 0 ~ 120 mm/s(可调)
机器尺寸: 450mm×340mm×390mm (长宽高)
重 量: 23Kg
工作温度:15℃-50℃
试验环境:无震动,无电磁干扰
工作电源:220V 50Hz
参照标准
骋叠/罢6672、骋叠/罢451.3、骋叠/罢6547、础厂罢惭顿645、础厂罢惭顿374、础厂罢惭顿1777、罢础笔笔滨罢411、
ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、
闯滨厂碍6783、闯滨厂窜1702、叠厂3983、叠厂4817果冻九一麻花果冻九一麻花