果冻九一麻花

台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪

规格：CHY-U

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在工业中，薄膜是一种使用非常频繁的材料，而且广泛应用于工业中的各个方面，如产物包装、电子生产等。在薄膜中，厚度是否均匀是衡量其质量的重要标准，因为如果薄膜厚度不均，不但会影响到薄膜的拉伸强度、阻隔性等，还会影响到薄膜的后续加工。

对于微电子薄膜、光学薄膜等，薄膜的厚度还直接关系到薄膜材料能否正常工作；另外，大规模集成电路中的薄膜，如果厚度发生变化，会直接影响到电路的性能。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度密不可分。为此，需要对薄膜的厚度测量。

台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪

CHY-U台式薄膜测厚仪是济南叁泉中石实验仪器根据GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度测定-机械测量法》、滨厂翱4593《塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度》等标准研发生产的厚度测量仪器，广泛适用于2尘尘范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量。

CHY-U台式薄膜测厚仪标准量块标定,方便用户快速标定设备，配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小；仪器在提供测试结果图形统计分析的同时，配备微型打印机，可自动保存并且打印多达100组测试结果。除此之外，仪器还配备搁厂232接口，方便实验数据和结果的分享。

技术参数               

测量范围 ：  0-2mm （其他量程可定制）    

分辨率：     0.1um

测量速度：   10次/min（可调）     

测量压力：   17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）      

接触面积：   50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种  

进样步矩：   0 ～ 1300 mm(可调)     

进样速度：   0 ～ 120 mm/s(可调)   

机器尺寸：   450mm×340mm×390mm (长宽高)     

重    量：     23Kg    

工作温度：果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花果冻九一麻花15℃-50℃

相对湿度：     ≤80%,无凝露    

试验环境：     无震动，无电磁干扰       

工作电源：     220V 50Hz

注：以上价格仅供参考，如需了解详情或详细价格，敬请致电济南叁泉中石。